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米质测定仪

简要描述:SC-E米质测定仪主要用于各种类大米(精米、糙米、糯米等)各项外观品质指标的精准自动检测,可进行多参数、批量化的自动分析。

  • 产品型号:SC-E
  • 产       地:常州市
  • 更新时间:2017-06-12
  • 访  问  量:300
详细介绍

米质测定仪的详细介绍
一、产品用途:
      用于各种类大米(精米、糙米、糯米等)各项外观品质指标的精准自动检测,可进行多参数、批量化的自动分析。

二、系统组成:
      双光源扫描成像仪及附件、分析软件和电脑(电脑另配)。

三、主要性能指标:
  ★配光学分辨率4800×9600、A4加长的双光源彩色扫描仪来成像(中晶 ScanMaker i800 Plus)。透扫幅面30 cm×20 cm,zui小像素尺寸0.0053mm ×0.0026 mm。
  ★可自动测量分析:垩白度/率、碎米率及小碎米率、整精米数量、整精米率、大米透明度、黄粒米、杂质量、异品种粒、不完善粒(未成熟粒),及糯米的阴米率、病斑或黄变率。还可自动分析大米的碾米精度、裂纹率,以及糙米胚芽率。
  ★具有自动学习与识别特性,可自动分割粘连的大米、种粒,可做自动分类分析。
  ★具有样本条码、电子天平RS232数据接口,可兼做各类种子的考种分析,如:自动测出玉米穗长、穗粗、秃尖长、左右穗缘角、穗行角、平均粒高、粒数、粒形、截面籽粒排数、穗粗、轴粗,以及截面上的平均粒长、平均粒宽参数等。可测种粒直径范围0.3-20mm(zui厚15 mm),自动测量精度≥99%,交互修正后准确率达100%。
自动测量每粒的面积、长径、短径、长宽比、圆度、等效直径(长度测量误差≤±0.05mm,长宽比测量误差≤±0.05,重现性误差≤±0.02;整精米率、碎米率指标测量误差≤±1.0%、重现性误差≤±0.25%)。可大批量自动分析处理与输出结果。与国标GB/T1350稻谷、GB/T17891优质稻谷或GB1354大米等标准相对应,检测各项指标的重量比和粒数比。各分析图像、分布图、结果数据可保存,分析结果输出至Excel表,可输出分析标记图。

注:本技术标书中打★款项必须响应,否则为重大偏离
推荐选配电脑:联想一体机B325(双核CPU /2G内存/512M独立显卡/500G硬盘/ 20”彩显/DVD-RM /无线网卡)。

 


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